EAN13

9783841788009

Éditeur

Univ Européenne

Date de publication

1 avril 2018

Collection

OMN.UNIV.EUROP.

Nombre de pages

120

Dimensions

22,9 x 15,2 x 0,7 cm

Poids

188 g

Langue

fre

Analyse Des Images En Métrologie Optique Par Ondelettes

Bahich-M

Univ Européenne

Prix public : 49,90 €

Les contraintes industrielles de réalisation de plus en plus sévères nécessitent fréquemment des techniques de mesure et de contrôle. Les méthodes de métrologie optique permettent le contrôle non destructif d'une grande variété de paramètres (déformations, déplacements...), avec une très haute précision. Le calcul de phase est une technique de mesure performante qui permet la reconstruction d'images 3D à partir d'interférogrammes d'intensité. Ce travail s'articule autour de l'extraction de phase à partir d'un seul interférogramme sans porteuse spatiale en utilisant la technique des ondelettes. Nous présentons ici des algorithmes de calcul de phase basés sur le décalage numérique de phase et la superposition numérique de la porteuse spatiale. Le choix s'est porté ensuite sur les transformées en ondelettes continues mono et bidimensionnelle qui donnent accès à la distribution de phase à travers une analyse locale des images d'intensité. Une évaluation, en été faite, a permis de valider et de confirmer la performance des algorithmes proposés. Le principal avantage de ces techniques est de pouvoir offrir une solution de métrologie adaptée au besoin des analyses dynamiques.

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