EAN13
9783330852457
Éditeur
Noor Publishing
Date de publication
1 novembre 2018
Collection
OMN.NOOR PUBLIS
Nombre de pages
216
Dimensions
22,9 x 15,2 x 1,3 cm
Poids
325 g
Langue
fre

Analyse Multi-Echelle Par Ondelettes Pour La Reconstruction De Forme, Etude Et Realisation D'Un Profilometre Optique Par Projection De Lumière Structuree

Mohammed Bailich

Noor Publishing

Prix public : 69,90 €

La mesure de la forme 3D est une problématique qui attire de plus en plus de chercheurs et qui trouve son application dans des domaines divers tels que l'inspection industrielle.Ces solutions sont basées sur des systèmes projecteur/caméra et utilisent de la lumière structurée.L'information 3D est ensuite calculée en décodant la distorsion des patrons projetés sur l'objet sous contrôle.Une des techniques les plus utilisées de la lumière structurée est la codification sinusoïdale de la phase qui permet une numérisation 3D de résolution pixélique.Notre travail porte sur le calcul de phase et plus particulièrement sur l'utilisation d'algorithmes robustes de traitement d'un seul patron afin d'optimiser les temps de traitements.Ce travail analyse l'effet de plusieurs paramètres physiques intervenant pendant l'acquisition des données ou lors de leurs traitements.En plus de l'analyse numérique, des études expérimentales ont étés effectuées afin de démontrer la validité de la méthode d'inspection proposée.De plus, cette technique adoptée a permis d'effectuer des tests sur des données réelles menant à des résultats fort satisfaisants qui valident nos approximations et nos solutions proposées
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