1. Sciences pures
  2. Physique

EAN13
9782814300873
Éditeur
Presses Universitaires de Nancy
Date de publication
8 novembre 2011
Collection
LES CAHIERS DE
Nombre de pages
38
Dimensions
21 x 0,3 cm
Poids
94 g
Langue
fre

Afm Express. Guide Pratique Pour La Microscopie À Force Atomique - Exploration Du « Nanomonde », Guide Pratique Pour La Microscopie À Force Atomique, Exploration Du Nanomonde

Grégory Francius

Presses Universitaires de Nancy

Prix public : 8,00 €

L'AFM (Microscopie à Force Atomique) est un outil d'investigation performant et multifonctionnel qui, de par l'intérêt qu'il a suscité au sein de la communauté scientifique, a connu un essor important ces dernières années. L'application la plus connue est sans aucun doute l'imagerie à haute résolution qui permet de visualiser des nano-objets et matériaux à l'échelle moléculaire. Par ailleurs, la spectroscopie de force (l'une des variantes de l'AFM) est devenue la technique de référence pour caractériser, à l'échelle locale, les propriétés physico-chimiques des matériaux. Ce petit livre a été réalisé dans la continuité du Tome I (« RMN Express »), afin que le lecteur puisse découvrir les aspects techniques et fondamentaux de l'AFM. Afin d'illustrer les potentialités de la technique, l'auteur aborde également quelques domaines d'application, parmi les plus en vue dans la communauté scientifique.
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